Точно сказать для каждого состава не имею возможности, а врать не буду. Нам в наследство от дедов учёных осталась лишь эта информация. Более подробная издана в научных трудах и диссертациях начала прошлого века за границей. Если у кого есть возможность достать их платно - проблем нет. А так остается подбирать опытным путём. Досадно, что в сети уже каким то самодельщиком выкладывались перевранные и переделанные рецепты именно этих и других люминофоров то же, на какой то страничке школьного форума. Шизы я начитался там вволю и не только по этому поводу. Это меня возмутило, потому и выкладываю. Слава гендальфу страницу уже убрали. Я выкладываю эту инфу из русского (!) первоисточника.

Вот ещё дополнительная статья посвящённая этой теме. Это уже новое. Как и где применяютя, из чего готовятся.
Использование: для регистрации ионизирующего излучения, основанной на радиофотолюминесценции. Сущность изобретения: используют щелочно-галоидный кристаллический материал, имеющий структуру типа NaCl и модифицированный ионами металла. В качестве модифицирующего металла используют либо двухвалентный никель в концентрации 0,02 - 1 мол.%, либо один из следующих элементов: галлий, индий, таллий, палладий в концентрации 0,1 - 1 мол.%. Щелочно-галоидный кристаллический материал может быть моно- либо поликристаллом. Данный материал является высокочувствительным к ионизирующему излучению, позволяет получить высокое пространственное разрешение и возможность многократного воспроизведения информации без использования драгоценных металлов.

В настоящее время широко изучаются чувствительные к ионизирующему излучению материалы, представляющие собой твердые изоляторы с широким диапазоном оптической прозрачности, например щелочно-галогенидные соединения (NACl, LiF). Они состоят из двух взаимопроникающих кубических решеток, содержащих щелочные и галогенидные ионы.
Под действием ионизирующего излучения в таких кристаллах образуется большое число различных дефектов кристаллической решетки вакансий, свободных электронов и более сложных агрегатных образований. Появление дефектов изменят оптические свойства кристалла ранее прозрачный кристалл становится способен поглощать свет и люминесцировать при облучении светом в полосах поглощения. При этом поглощение и излучение света происходит на дефектах, образованных ионизирующим излучением.
Однако на практике использование для регистрации ионизирующего материала на основе чистого кристалла не нашло применения, так как ни эффективность, ни воспроизводимость не соответствуют предъявляемым требованиям. Однако положение меняется, если чувствительный к ионизирующему излучению материал содержит щелочно-галоидные кристаллы и определенные модификаторы в виде твердого раствора. Модификатор становится основным центром, на котором локализуются первичные радиационные дефекты. Влияние дефектов роста кристаллов существенно снижается, что приводит к улучшению воспроизводимости результатов регистрации ионизирующего излучения. Повышению эффективности и воспроизводимости способствует также то, что образующиеся дефекты, включающие в себя ионы модификатора, более энергетически стабильны, т.е. позволяют осуществлять регистрацию и хранение при комнатной температуре.
Известен материал, чувствительный к R-лучам, используемый для регистрации рентгеновских изображений с помощью электронно-оптических преобразователей. Такой материал включает монокристаллы Csl, модифицированные ионами Тl или Na.

П р и м е р 2. Материал, чувствительный к ионизирующему излучению, представляет собой прессованный поликристалл хлористого натрия, модифицированный ионами таллия, в концентрации 0,5 мол. Материал облучают в условиях, аналогичных указанным в примере 1, но считывают изображение при возбуждении структурных дефектов кристалла в области 320-350 нм.
Разрешение полученного изображения составляет 300 лин/мм, возможно многократное считывание без ухудшения изображения. Изображение сохраняется 6 мес

П р и м е р 3. Материал, чувствительный к ионизирующему излучению, представляет собой монокристалл фтористого лития, модифицированный ионами галлия, в концентрации 1 мол. Материал облучают в условиях, аналогичных указанным в примере 1, но считывают получаемое изображение при возбуждении дефектов кристалла в области 330 нм.
Разрешение полученного изображения составляет 300 лин/мм, возможно многократное считывание без ухудшения изображения. Изображение сохраняется 6 мес.

П р и м е р 4. Материал, чувствительный к ионизирующему излучению, представляет собой монокристалл фтористого лития, модифицированный ионами никеля, в концентрации 0,02 мол. Материал облучают в условиях, аналогичных указанным в примере 1, но доза облучения составляет 50 Р. Полученное изображение считывают путем регистрации люминесценции структурных дефектов кристалла при длине волны 390 нм и 580 нм, полоса возбуждения этих дефектов находится в области 240-270 нм.
Разрешение полученного изображения составляет 200 лин/мм, возможно многократное считывание без ухудшения изображения. Изображение сохраняется 1 г.

П р и м е р 5. Материал, чувствительный к ионизирующему излучению, представляет собой монокристалл хлористого натрия, модифицированный ионами никеля, в концентрации 0,25 мол. Материал подвергают воздействию излучения радия через свинцовый экран толщиной 0,25 мм. Доза изучения составляет 50 мР. Полученную дозу изучения регистрируют измерением люминесценции дефектов кристалла в условиях, аналогичных указанным в примере 4. При этом отношение сигнала к шуму равно двум.
Информация о накопленной дозе сохраняется в течение 3 мес.

П р и м е р 6. Материал, чувствительный к ионизирующему излучению, представляет собой монокристалл хлористого калия, модифицированного ионами палладия, в концентрации 0,5 мол. Материал облучают в условиях, аналогичных указанным в примере 1, но считывают получаемое изображение при возбуждении дефектов кристалла в области 250-330 нм.
Разрешение полученного изображения составляет 100 лин/мм, возможно многократное считывание без ухудшения изображения. Изображение сохраняется 3 мес.
Данный материал, чувствительный к ионизирующему излучению, найдет применение для дозиметрии и измерения пространственного распределения рентгеновского излучения, его визуализации, анализа и хранения, преимущественно в дефектоскопии, дифрактометрии, рентгеновской микроскопии.